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[期刊] 统计与决策
[作者]
尚云艳 郭鹏江 夏志明
为了提高对自相关过程均值发生中小漂移的检测效率,文章提出基于AR(1)模型的动态EWMA残差控制图,通过Monte-Carlo模拟,与传统残差控制图和自相关残差控制图相比较,显示动态EWMA残差控制图提高了对中小漂移的检测效率。
[期刊] 工业工程与管理
[作者]
肖艳 李亚平 俞少君
随着自动化技术的发展，数据自相关现象在现代制造业中普遍存在。基于自相关模型的残差控制图是解决自相关数据统计监控问题一类较好方法。现有研究均假设数据呈一阶自相关，仅研究一阶自回归模型与残差控制图结合的过程监控问题。但是，实际生产中观测数据可能服从多阶自相关。基于此，针对数据多阶自相关的过程监控问题，运用蒙特卡洛仿真法，研究不同自回归阶数的自回归模型对残差控制图性能的影响。研究表明：在残差控制图应用中，过程受控时，一阶自回归模型的表现与同阶自回归模型的性能表现相当，即二者发生第一类错误的概率相差不大；而在质量偏移诊断中，一阶自回归■模型的性能表现整体优于同阶的自回归模型，大大降低了漏警的成本。
关键词：
自相关 自回归模型 残差控制图
[期刊] 数理统计与管理
[作者]
胡雪龙 张素颖 孙金生 唐安安 乔宇龙
现代制造过程中,某些产品的不合格率非常低,通常将这类过程称为高质量过程。由于高质量过程中相邻不合格产品之间的时间间隔服从指数分布,可以通过指数控制图实现对过程状态的监控。因此,本文提出一种改进型指数加权移动平均(Improved Exponentially Weighted Moving Average,IEWMA)指数控制图,并采用蒙特卡洛仿真获得控制图的平均运行链长(Average Run Length,ARL),仿真结果表明该控制图的性能优于传统单边EWMA指数控制图,尤其针对过程中产生较小偏移的情形具有较好的检测性能。
[期刊] 数理统计与管理
[作者]
胡雪龙 张素颖 孙金生 唐安安 乔宇龙
现代制造过程中,某些产品的不合格率非常低,通常将这类过程称为高质量过程。由于高质量过程中相邻不合格产品之间的时间间隔服从指数分布,可以通过指数控制图实现对过程状态的监控。因此,本文提出一种改进型指数加权移动平均(Improved Exponentially Weighted Moving Average,IEWMA)指数控制图,并采用蒙特卡洛仿真获得控制图的平均运行链长(Average Run Length,ARL),仿真结果表明该控制图的性能优于传统单边EWMA指数控制图,尤其针对过程中产生较小偏移的情形具有较好的检测性能。
[期刊] 统计与决策
[作者]
孙金生 胡雪龙 平安 吴姝
文章在改进型指数加权移动平均（IEWMA)■控制图的基础上，考虑样本均值在控制图受控区域的实际位置，提出了一种变采样间隔（VSI)IEWMA ■控制图。采用马尔科夫链构建了VSI IEWMA ■控制图的状态转移矩阵，并推导其平均报警样本个数和平均报警时间。仿真结果表明，针对不同的均值偏移大小，引入VSI特性显著提高了传统固定采样间隔IEWMA ■控制图的性能，且通过与传统VSI EWMA ■控制图比较可以发现，VSI IEWMA ■控制图的性能更加优越，尤其是针对过程均值参数产生较小偏移的情形。
[期刊] 运筹与管理
[作者]
王海宇 乔百豪 瞿博阳
为了提高指数加权移动平均(EWMA)控制图监控效率评价的精确性和全面性,提出用一个质量周期内的平均产品个数替代平均抽样个数来进行控制图的经济性和统计性综合评价,建立了一种基于平均产品长度(APL)的更为精确的EWMA控制图经济统计多目标优化设计模型,并采用具体的算例说明了采用NSGA-Ш算法对该模型进行计算的步骤。最后,用该方法优化设计的EWMA控制图与已有的几种EWMA控制图优化设计进行比较,结果表明:本文提出的经济统计优化设计方法显著优于只考虑经济性能的经济设计和只考虑统计性能的统计设计方案。
[期刊] 数理统计与管理
[作者]
郭宝才 吴志超 朱玉梅 何希祥
多数控制图设计均基于过程服从正态分布,且受控过程参数已知的假定,然而实际中,过程真实分布常常偏态,且过程参数也经常未知。本文首先设计了等尾和平均链长无偏(无偏)EWMA图用于偏态Maxwell分布的监控,接着从条件视角出发推导出了条件平均链长的精确分布,讨论了参数估计对所提控制图的影响,并基于超越概率准则给出为将参数估计所引致的伪警报率降低到合理水平所需的第Ⅰ阶段最小样本数。为弥补实际应用中第Ⅰ阶段样本数据的不足,提出精确修正方法设计具有理想条件表现的等尾和无偏EWMA图用于早期过程的监控。结果表明,相较于未修正图,修正图发现过程失控的能力略有下降。另外,修正无偏图整体上优于等尾图。最后通过实例说明所设计控制图的实际执行。
[期刊] 数理统计与管理
[作者]
郭宝才 吴志超 朱玉梅 何希祥
多数控制图设计均基于过程服从正态分布,且受控过程参数已知的假定,然而实际中,过程真实分布常常偏态,且过程参数也经常未知。本文首先设计了等尾和平均链长无偏(无偏)EWMA图用于偏态Maxwell分布的监控,接着从条件视角出发推导出了条件平均链长的精确分布,讨论了参数估计对所提控制图的影响,并基于超越概率准则给出为将参数估计所引致的伪警报率降低到合理水平所需的第Ⅰ阶段最小样本数。为弥补实际应用中第Ⅰ阶段样本数据的不足,提出精确修正方法设计具有理想条件表现的等尾和无偏EWMA图用于早期过程的监控。结果表明,相较于未修正图,修正图发现过程失控的能力略有下降。另外,修正无偏图整体上优于等尾图。最后通过实例说明所设计控制图的实际执行。
[期刊] 现代管理科学
[作者]
赵再强 王伟
常规控制图主要用于产品系统的质量监控中,其前提假设是过程的质量特性值相互独立。在研究宏观经济运行质量时,由于经济时间序列存在自相关性,不能直接运用常规控制图对宏观经济运行质量进行监控。文章提出残差控制图对具有自相关性的经济序列进行稳定分析,对未来经济运行质量进行监控,并结合中国GDP数据进行了实证分析。
关键词：
残差控制图 宏观经济 质量监控
[期刊] 工业工程
[作者]
周昊飞
为提升自相关过程监控的效率，提出基于门控循环单元(gated recurrent unit,GRU)神经网络的自相关过程残差控制图。采用受控下的自相关过程数据对GRU网络进行离线训练与测试，对预测误差进行监控，形成控制用残差控制图。采用训练好的GRU网络预测当前过程波动，利用控制用残差控制图判定当前过程是否失控。运用蒙特卡洛仿真法，与基于一阶自回归模型、BP神经网络以及支持向量回归构建的残差控制图进行性能对比。研究表明，过程受控时，所提残差控制图与其他3种的稳态平均运行链长相差不大，即4者的性能表现相当；而在均值偏移异常过程中，所提残差控制图的平均运行链长远小于其他3种，对自相关过程均值偏移具有较好的监控性能。
[期刊] 运筹与管理
[作者]
薛丽
为了提高过程监控效率的同时降低过程控制成本,研究可变抽样区间(VSI)指数加权移动平均(EWMA)控制图的经济设计问题。首先建立基于预防维修和质量损失函数的VSI EWMA控制图联合经济模型;使单位时间的损失成本函数最小来确定参数的最优值;其次用遗传算法来寻找联合经济模型的最优解,并给出一个算例。最后对VSI EWMA控制图联合经济模型进行灵敏度分析,得出控制图模型参数对设计参数的影响关系。
[期刊] 运筹与管理
[作者]
薛丽 曹逗逗 王秋语
现代质量控制的核心技术和方法始终围绕着如何提高监控效率和降低控制成本问题而展开。统计过程控制是一种常用的质量控制方法，其重要的工具——控制图对过程中的质量特性值进行统计并描点达到监控过程质量状态的目的。控制图的设计方法将会对产品过程的监控效率和控制成本产生较大影响。针对只考虑传统控制图参数固定以及控制图统计设计的情形，传统的缺陷数c控制图基于泊松分布建立以监控制造过程中产品的缺陷数。为了降低控制过程成本并提高缺陷数c控制图的监控效率，研究预防维修策略下可变抽样区间(VSI) EWMA图的经济设计问题。首先，建立泊松分布下VSI EWMA控制图的经济模型。其次，令单位时间的损失成本函数最小得到经济模型的最优解。以化工建材行业为例，说明如何根据预防维修策略下所构建的控制图经济模型得到最优参数。然后，为得到设计参数与模型参数的影响关系，对经济模型灵敏度分析。最后，对经济模型进行最优性分析验证其优越性。
[期刊] 工业工程
[作者]
薛丽
结合随机过程均值偏移的概率分布和田口质量损失函数,研究了非正态EWMA控制图的优化设计问题。利用Burr分布近似各种非正态分布,使田口质量损失函数的总平均值最小进而确定参数的最优值,对比研究表明该方法设计的非正态EWMA(ML-EWMA)控制图明显优于统计方法设计的非正态EWMA控制图,具有较小的质量损失。
[期刊] 物流技术
[作者]
张莹 柯楚贤
累积数量控制图CQC-r是事件时间间隔控制图的一种，将变采样间隔策略与CQC-r图结合，给出VSI CQC-r图的设计方法，推导平均报警时间的表达式；使用改进因子对VSI CQC-r图的性能进行分析，验证了变采样间隔对CQC-r图的改进效果。最后将VSI CQC-r图应用于订货间隔的监控，验证该控制图在供应链管理中的有效性。
[期刊] 工业工程与管理
[作者]
刘训波 孙小明 朱奕颖
将ARMA(n,n-1)模型应用到具有自相关性的生产过程中,提出了基于该模型的统计控制图。使用蒙特卡洛方法进行数据模拟,与其它文献比较可得,当生产过程平稳时,ARMA(n,n-1)控制图的性能要远远地超过ARMA(1,1)控制图;当生产过程不平稳时,ARMA(n,n-1)控制图也能达到预期目的。并在此基础上,设计了ARMA(n,n-1)统计控制图的操作步骤。
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