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信用风险压力测试方法与应用研究

2007-07-30分类号:F832;F224

【作者】任宇航  孙孝坤  程功  夏恩君  
【部门】北京理工大学管理与经济学院  国家开发银行信用管理局  国家开发银行信用管理局  北京理工大学管理与经济学院 北京100081  北京100037  北京100037  北京100081
【摘要】分析了信用风险压力测试的重要性和一般过程,针对我国银行业数据缺乏的现状提出了基于LOGIT回归的测试方法,并通过收集我国宏观经济数据和金融机构的数据,利用该方法进行了应用研究,结果表明该方法可以为我国银行业信用风险管理提供有益的参考,结论部分指出了该方法存在的不足,提出了有关建议。
【关键词】信用风险  压力测试  Logit回归
【基金】
【所属期刊栏目】统计与决策
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