面板单位根检验中的快速双自举抽样推断方法研究
2009-11-30分类号:C81
【部门】中南财经政法大学信息学院
【摘要】文章对SUR-ADF面板单位根检验进行了理论解析。通过蒙特卡罗实验,揭示了SUR-ADF检验的有限样本性质,即较低的检验势和较高的水平扭曲;提出了应用快速双自举抽样推断的方法来提高SUR-ADF检验的可靠性的想法。
【关键词】面板单位根 水平扭曲 检验势 快速双自举抽样
【基金】湖北省人文社科基金资助项目(2008Y060);; 中南财经政法大学研究生教育创新基金资项目(2008Jg06)
【所属期刊栏目】统计与决策
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