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C_(pk)与控制图的检出力(1-β)

2002-02-25分类号:F224

【作者】魏世振  韩玉启
【部门】南京理工大学经济管理学院   南京理工大学经济管理学院
【摘要】
【关键词】控制图  pk  不合格品率  过程能力指数  控制界限  样本容量  返工率  通用电器公司  合格产品  密度函数  
【基金】
【所属期刊栏目】统计与决策
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