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利用Innography进行专利情报分析——以OLED为例

2013-09-20分类号:G353.1

【作者】战玉华  潘乐影  程爱平  
【部门】清华大学图书馆  
【摘要】指出作为众多专利分析工具中的一种,Innography具有专利检索、统计分析及核心专利挖掘等功能。以典型课题有机发光二极管(OLED)为例,探索Innography在专业情报分析中的价值,阐述如何利用Innography获取全球专利信息,利用专利强度指标挖掘核心专利,对相关专利进行统计分析,得出科学的结论。总结Innography的特点及不足,强调专利情报分析必须准确和全面。
【关键词】专利分析  Innography  有机发光二极管  OLED
【基金】
【所属期刊栏目】图书情报工作
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