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专利计量指标研究述评

2011-10-20分类号:G353.1

【作者】高继平  丁堃  
【部门】大连理工大学21世纪发展研究中心暨WISE实验室  
【摘要】就当前国内外主要的专利计量指标,从适用性的角度将其划分为宏观、中观和微观三个层次,并就其计算方法和表征意义进行详细介绍。通过分析发现,专利指标主要从量、率和质的角度,体现宏观技术领域、中观具体企业和微观专利文献方面的差异。最后,对当前专利计量指标应用过程中存在的一些问题进行探讨,尤其是对我国专利计量中存在的一些独特问题进行较为深入的剖解,希望可以对相关政策制定和产业布局规划提供一定的参考。
【关键词】专利计量  指标  计算方法  表征意义
【基金】国家社会科学基金项目“学科知识测度体系及其应用研究”(项目编号:08BTQ025)研究成果之一
【所属期刊栏目】图书情报工作
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