【摘要】在不同低温条件下，测定青花菜５个亲本及２０个组合离体幼叶的细胞膜伤害率，并配以改进后的ｌｏｇｉｓｔｉｃ方程，求得它们的低温致死温度。以低温致死温度为抗冻指标，运用（Ｖｒ，Ｗｒ）图表、双列方差分析、配合力分析等方法，研究其抗冻遗传规律。结果表明：在参试的５个亲本中，低温致死温度范围在－７．０～１１．５℃之间；ｈ２（Ｂ）为９５．９６％；Ｈ／Ｄ０．６３３。青花菜的抗冻性呈数量性状遗传方式，经检验，符合加性－显性遗传模型，以加性效应为主，显性效应也有一定作用。