【摘要】[目的]为实现猕猴桃冷害的无损甄别，本文提出了基于高光谱成像技术检测‘红阳’猕猴桃冷害的方法。[方法]通过分析400～1000 nm和1000～2000 nm波段下的光谱，比较不同预处理下的偏最小二乘判别分析（PLS-DA）和支持向量机（SVM）模型，选出正确率较高的模型后，对该方法构建全波段和特征波段光谱信息的模型，并对结果进行比较。[结果]主成分分析（PCA）结果表明，不同冷害等级的猕猴桃样本可以区分，但相邻等级猕猴桃样本间存在少量重叠。自动标准化（Autoscale）为最佳预处理方式，基于Autoscale建立的SVM模型相对于其他模型具有更高的准确率。400～1000 nm波长范围下，连续投影算法（SPA）选择特征波长相对于全波长的模型更优，建模集、预测集正确率分别为100%和94.2%，在1000～2000 nm波长范围，竞争性自适应重加权算法（CARS）选择特征波长比全波长模型效果更好，建模集、预测集正确率分别为92.3%和86.5%。[结论]高光谱成像技术可以全面、准确、快速地预测猕猴桃冷害程度，该技术为猕猴桃的流通、销售提供了一定的理论依据。