【摘要】为挖掘、利用玉米耐贮藏基因资源,对糯玉米组合N7×N32的216个F_2单株种子进行2年的常温贮藏,并以贮藏后种子的单位质量电导率和发芽率为耐贮藏性指标,建立极端耐与不耐贮藏BSA混池。首先筛选在2个BSA混池间有多态性的引物,后在多态引物所在的染色体上增加引物,以F_2为作图群体,构建分子标记连锁图谱;同时结合测得的F_2耐贮藏性状数据,利用复合区间作图法检测耐贮藏相关QTL。结果表明:1)从600对SSR引物中筛选出2对在BSA混池间有多态性的引物,分别位于第4和6染色体上;2)在第4和6染色体上增加200对SSR引物,构建有39个标记位点总长为234.9cM的SSR标记连锁图谱;3)共检测到7个耐贮藏相关QTL。其中,在第4染色体区间bnlg1265～bnlg1755内同时定位到2个指标的QTL(qCE-4-1和qGP-4-1),LOD值分别为19.3和18.1,贡献率分别为30.5%和25.9%;在第6染色体umc1014～bnlg1154内也同时定位到2个指标的QTL(qCE-6-1和qGP-6-1),LOD值分别为11.2和8.2,贡献率分别为15.0%和10.3%。本研究可为耐贮藏QTL的精细定位、分子标记辅助选择耐贮藏新品种提供理论依据。