【摘要】半导体生产制造系统具有大规模、工艺繁杂、随机性大、可重入等显著特点。以半导体最终测试阶段批处理调度为基础,把学习-遗忘效应应用到典型半导体批调度问题中,构建基于学习-遗忘效应的批调度模型。分别结合调度问题和调度模型对双层算法(粒子群算法&萤火虫算法)进行设计,通过仿真实验检验了双层算法在求解具有学习遗忘效应的批调度模型方面的可行性和有效性,并对比分析以最大完工时间为优化目标的实验结果,探讨学习遗忘效应对半导体批调度问题的影响程度,对实际半导体生产具有重要指导意义。