常用逻辑门芯片测试装置研究与设计
2017-01-17分类号:TN407;G642.0
【部门】河海大学物联网工程学院
【摘要】结合数字电路相关课程的改革,针对数字电路中常用的74/54系列逻辑门芯片,研究并设计了一种基于单片机最小系统的常用逻辑门芯片测试装置。该装置为电子技术相关理论和实践教学提供了快速、直观、稳定的测试方式,提高了实验室芯片检测的效率与准确率,同时也提高了理论与实验课程的教学效果。
【关键词】数字电路 逻辑门 芯片测试 实践教学
【基金】江苏高校品牌专业建设工程一期项目(PPZY2015B141);; 河海大学高等教育科学研究2015年度立项课题“翻转课堂模式下的电类课程实践教学模式研究与实践”(20151212)
【所属期刊栏目】实验技术与管理
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