【摘要】以典型的果穗顶端败育类型玉米杂交种为材料，对果穗中部正常籽粒与上部败育籽粒内源ABA，IAA，GAs和CTK进行测定表明：在授粉后0～8d阶段，不同类型籽粒间ABA，IAA，GAs的浓度无明显差异。在授粉后4～8d阶段败育籽粒的CTK含量显著低于正常籽粒。进一步测定乙烯释放量发现，在授粉后0～4d阶段2部位籽粒间已表现出明显的差异。结果显示，在正常与败育籽粒间内源激素的浓度变化具有一定的时序性，授粉后顶部籽粒高水平的乙烯释放可能是籽粒败育的诱导因素。