【摘要】鉴于创新活动中组织和惯例之间的互动依赖关系,提出了组织-惯例耦合相依的技术创新网络,从节点负荷、节点容量、子网络内部与子网络间的失效机制入手,构建了相依技术创新网络的级联失效模型,分析不确定干扰下级联失效蔓延的动态演化机制,运用数值仿真探讨了相依模式与关键参数对拓扑结构及创新能力的脆弱性影响,通过实例进行了验证分析。结果表明:组织和惯例节点存在抗干扰能力阈值,小于该阈值会致使相依技术创新网络产生级联崩溃现象;相依网络间耦合强度与抗干扰能力阈值呈近似U型关系,存在最优耦合强度;组织-惯例的对称均匀结构比对称非均匀结构具有更强的鲁棒性;负荷作用下异配相依模式能够增强相依技术创新网络抵御级联失效的能力;当小于最优耦合强度时,度大失效和随机失效比度小失效对拓扑结构及创新能力的破坏性影响较大,反之,三种不确定干扰方式间的差异性减小。研究结论对提升技术创新网络的抗风险能力具有重要意义。